Empyrean 锐影XAS X射线吸收谱仪配置

为什么选择 Empyrean XAS X射线吸收谱仪?

• 获取普通衍射技术无法得到的信息

解析平均晶体结构之外的氧化态、局域结构以及化学状态信息。

• 自主把控实验安排

无需预约同步辐射实验机时，即可常规开展 XANES 与 EXAFS 测试。

• 建立化学信息与晶体学的关联

同一台 Empyrean 平台上集成 XAS, XRD, 散射, 对分布函数 PDF, 以及成像分析技术。

• 测试结果可靠

测得的数据媲美同步辐射结果，与同步辐射标准测试数据高度吻合。

核心优势

•可在实验室开展 XANES 和 EXAFS 测试    

•集成式多功能工作流程

•透射式检测模式

•多吸收边检测能力

•广泛的元素覆盖范围

洞察晶格之下的结构

XAS 可为特定元素的局部化学环境提供直接洞察。通过测量元素吸收边附近的 X射线吸收情况，X射线吸收谱 (XAS) 可获取的材料信息：

• 元素氧化价态

• 配位几何构型

• 原子间距测量

• 短程有序研究

Empyrean X射线衍射仪采用专用的透射配置开展 XAS 测量，确保能量扫描始终稳定且具备优异的重现性。

X 射线近边吸收谱 (XANES) 可提供吸收边附近的氧化态与电子结构信息，而扩展X射线吸收精细结构谱 (EXAFS) 则可在较高能量范围内探测原子的短程有序性。

当与衍射及散射技术结合时，XAS 有助于研究人员在单次实验工作流程中，实现“局部化学 → 纳米尺度结构 → 长程晶体学"的无缝关联。

值得信赖的定量洞察

Empyrean XAS X射线吸收谱仪可提供高质量、高重现性的光谱数据，适用于定性与定量分析。

高能量分辨率支持开展深入的 XANES 分析，包括精确捕捉对氧化态及配位环境高度敏感的边前特征。

在较高能量下，系统提供了适用于EXAFS定量分析的宽 k 空间范围，从而支持提取配位数和原子间距等结构参数。

测量采用透射几何光路，为各类材料的定量结构解析提供了稳健且具高重现性的途径。

广泛的元素和能量覆盖范围

Empyrean XASX射线吸收谱仪支持覆盖元素周期表大部分元素的测量，有助于同时研究以下两个方面：

• 中等原子序数元素（如钛、铁、镍和钼）的 K 吸收边

• 较重元素（如钡和铈）的 L 吸收边

覆盖以下能量范围： 4–20+ keV

这一技术能力支持对储能、催化、功能材料及环境系统等领域各种材料的表征分析。

在单次实验中即可测量多个吸收边，从而高效表征含有多种元素的复杂材料。

针对复杂材料的多吸收边测量能力

许多先进材料的性能都依赖于多种元素之间的相互作用。借助 Empyrean XAS X射线吸收谱仪，可在单次实验中测量多个吸收边。

实现对复杂材料的高效分析，例如：

• 多组分催化剂

• 电池电极

• 功能氧化物

• 多元素合金

无需反复调整仪器配置，即可依次连续采集多个吸收边，从而助力研究人员更高效地评估各元素之间的相互作用。

结果如何？实验更迅速，数据更全面。

集成至 Empyrean X射线衍射仪平台中

Empyrean XAS X射线吸收谱仪是更广泛的 Empyrean 多功能X射线衍射仪平台

得益于 PreFIX 概念，测量配置的更换不仅快捷，且具备优异的重现性。这实现了衍射、散射、成像与光谱分析之间的顺畅切换，而无需繁琐的重新准直操作。

此模块化设计支持将多种互补技术整合至单一工作流程中，从而助力关联长程结构信息与局部化学洞察的研究。

单一分析仪。样品处理更简单。更佳的实验重现性。

专为实验工作流程打造

Empyrean XAS X射线吸收谱仪配有集成式软件，可引导您完成从实验设置到数据解析的完整测量流程。

关键工作流程功能包括：

• 自动数据采集

• 扫描准直和归一化

• 探测器校正与背景扣除

• 吸收边前与边后拟合

• 光谱数据处理与归档管理

这些工具既适用于初学者，也适用于经验丰富的研究人员，仅需极少的人工干预，便可实现高效、可靠的数据处理。

通过精简工作流程，该系统缩短了从测量到结果解析的周期。

自主安排实验，高效互补同步辐射光源

尽管特定的前沿研究仍离不开同步辐射光源，但有限的机时可能会限制常规表征及测试方法的开发。

Empyrean  XAS X射线吸收谱仪提供了基于实验室获取高质量 XANES 和 EXAFS 测量数据的途径，从而支持：

• 常规材料筛选

• 测试方法优化

• 探索性研究

• 同步辐射实验前的预准备

与同步辐射测量数据的对比表明，二者的光谱特征高度一致，这为基于实验室的可靠分析提供了坚实的数据支持。

凭借更具弹性的研究规划，加速实验周期。

参数指标